마이크로웍스 코리아 반도체 분석센터는 가변 주파수를 이용한 2D, 3D V/I, 매트릭스 V/I 측정을 위한

영국 abi사의 AMS(Advanced Matrix Scanner) 32채널 시스템 3D V-I 테스터를 도입하였습니다.

전자부품이나 PCB 어셈블리를 고유한 테스트 기술을 사용하여 내부 손상 및 불일치를 포함하여

결함의 검출을 위한 전기 신호를 인가하며 시험합니다.

​

• V/I signature analysis with frequency range
  

• V/I signature analysis (static frequency)
  

• Matrix V/I analysis (multiple reference)
  

• Dynamic V/T analysis (pulse outputs)
  

• Automatic live comparison
  

• Automatic comparison with saved mask
  

• Interactive test sequences with the ABI software
  

V-I 커브를 확인하여 전자부품 불량 유무를 그래픽으로 처리하여 일반 테스터기보다 가독성과 부품 특성 해석이 용이합니다.

부품에 낮은 전압과 전류를 인가하여 부품의 특성곡선을 확인함으로써 순방향 전압, 역방향 전압, 역방향 Leak 전류, Short 등 여러가지 특성들을 수치 및 시각적으로 확인하여 많은 정보를 해석할 수 있습니다.

앞으로 마이크로웍스 코리아㈜ 반도체 분석센터는 더욱 다양한 분석장비 도입을 통해 고객이 요구하는 다양한 분석과 신뢰도를 높이기 위해 더욱 노력하겠습니다.

감사합니다.

리포트 예시)

정품 분석 그래프